GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
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- 更新时间：2018-09-11
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资料介绍
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。上一篇：GB/T 36476-2018 印制电路用金属基覆铜箔层压板通用规范
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本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。