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GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

  • 英文名称：Semiconductor integrated circuit
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资料介绍

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。

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