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SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
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360book.com 2019-04-06 11:49:19
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本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,以下简称FPGA)的电参数测试方法。
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