GB/T 42399.2-2023 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第2部分:探头
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资料介绍
本文件规定了相控阵探头制造完成后所进行的性能测试。本文件也规定了测试方法和验收标准。
本文件适用于下列无损检测中接触法(带或不带楔块)或液浸法的相控阵探头,中心频率范围从0.5 MHz到10 MHz:
a) 非矩阵探头
——线阵;
——环阵;
——部分环扇阵(菊花型)。
b)二维矩阵探头
本文件不提供相控阵超声检测仪器或组合系统特性的检测方法和验收标准。这些另行在ISO 18563-1和ISO 18563-3中给出。
注:在不引起混淆的情况下,本文件中的“标准化文件”简称为“文件”。
本文件适用于下列无损检测中接触法(带或不带楔块)或液浸法的相控阵探头,中心频率范围从0.5 MHz到10 MHz:
a) 非矩阵探头
——线阵;
——环阵;
——部分环扇阵(菊花型)。
b)二维矩阵探头
本文件不提供相控阵超声检测仪器或组合系统特性的检测方法和验收标准。这些另行在ISO 18563-1和ISO 18563-3中给出。
注:在不引起混淆的情况下,本文件中的“标准化文件”简称为“文件”。
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