GB∕T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语

GB∕T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语
本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语，按照系统顺序中各自的层次分类。
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外，本文件的某些部分适用于相关领域（如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。
标准号：GB/T 40300-2021
标准名称：微束分析　分析电子显微学　术语
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary
采用标准：ISO 15932:2013
采标名称：《微束分析　分析电子显微学　术语》
采标程度：MOD 修改采用
起草人：柳得橹、汤斌兵、贺连龙
起草单位：北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)