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GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- 英文名称：Semiconductor integrated circuits
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- 提 取 码：idoy
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资料介绍
本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号（LVDS，low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。
本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
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