GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量 正式版

本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。方法A以IEC 604445的π型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 604445或IEC 604448的π型网络或反射法为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。注： 本文件规定的测量方法不仅适用于AT切型，也适用于其他晶体切型和振动模式，如双转角切型和振动模式(IT,SC)和音叉晶体元件(通过使用高阻抗测试夹具)。

标准号：GB/T 22319.6-2023
标准名称：石英晶体元件参数的测量　第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量
英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD)

发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01

引用标准：IEC 60444-5 IEC 60444-8
采用标准：IEC 60444-6:2021《石英晶体元件参数的测量　第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量》 IDT 等同采用

起草人：王国军、宫桂英、毛晶
起草单位：郑州原创电子科技有限公司、北京晨晶电子有限公司、武汉海创电子股份有限公司
归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)