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SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南

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资料介绍

本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构,对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。
本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。
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