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SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
- 英文名称：Test methods for surface defects of silicon wafers for solar cell
- 下载地址：[下载地址1]
- 提 取 码：5s77
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资料介绍
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)外观缺陷的测试方法。
本标准适用于太阳能电池用硅片的沽污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有关各方协商。
本标准适用于太阳能电池用硅片的沽污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有关各方协商。
