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SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分：结温
- 英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode -Part 14: Junction temperature
- 下载地址：[下载地址2]
- 提 取 码：huuc
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资料介绍
本部分规定了半导体红外发射二极管结温的测量原理图、测量步骤以及规定条件。适用于半导体红外发射二极管。
