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SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
- 英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 8:Radiant intensity
- 下载地址：[下载地址1]
- 提 取 码：529y
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资料介绍
规定了半导体红外发射二极管辐射强度的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
本部分适用于半导体红外发射二极管。
本部分适用于半导体红外发射二极管。
