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SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
- 英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode -Part 1:General
- 下载地址：[下载地址1]
- 提 取 码：8ftt
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资料介绍
规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。
