JIS B 7440-5-2013 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第５部：シングル及びマルチスタイラス測定

• 标准编号：JIS B 7440-5-2013 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第５部：シングル及びマルチスタイラス測定.pdf
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