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SN/T 3323.7-2023 氧化铁皮 第7部分:游离α-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法
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360book.com 2023-07-14 18:22:00
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本文件规定了用X射线衍射K 值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2 含量的检测方法。本文件适用于氧化铁皮中游离α-SiO2 含量的测定。测定范围:≥0.50%。
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