标 准 编 号：GB/T 27760-2011 简体中文标题：利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 繁体中文标题：利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 English name ：Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using Si(111) monatomic step标准简介：本标准规定了利用Si...