本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。标准号：GB/T 42969-2023标准名称：元器件位移损伤试验方法英文名称：Displacement damage test method for components发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01引用标准：GB 18...