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SJ∕T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
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360book.com 2022-01-05 00:00:00
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SJ∕T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法本标准规定了晶体管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求,适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行。
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