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SJ∕T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
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360book.com 2021-12-17 00:00:00
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SJ∕T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法本标准规定了光电耦合器件(以下简称光耦)1Hz~300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
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